德律TR7500DT離線AOI自動光學檢測儀

德律TR-7500DT AOI自動光學檢測儀性能特點:1、高速檢測動態檢測技術可提供高速且清晰的電路板實際影像。2、中尺寸大小的電路板檢測 時間僅需21秒(不含定位點確認及進出板時間)。3、先進彩色光源系統具彈性、多角度的光源設定方式,可打出不同角度及顏色的光線,對於微小元器件之焊錫點提供更精準穩定的檢測能力。4、圖形化的光源控制人機使用界面可大幅簡化光源設定及編程時間。5、簡易的編程環境:僅需五

  • 型號: TR7500DT
  • 品牌: 德律
  • 價格:

德律TR7500DT離線AOI自動光學檢測儀性能特點:

1、高速檢測動態檢測技術可提供高速且清晰的電路板實際影像。

2、中尺寸大小的電路板檢測 時間僅需21秒(不含定位點確認及進出板時間)。

3、先進彩色光源系統具彈性、多角度的光源設定方式,可打出不同角度及顏色的光線,對於微小元器件之焊錫點提供更精準穩定的檢測能力。

4、圖形化的光源控制人機使用界面可大幅簡化光源設定及編程時間。

5、簡易的編程環境:僅需五種數據欄位 (元件名稱、X軸座標、Y軸座標、旋轉角度及封裝種類) 的CAD檔案即可完成程式制作

6、對于各種特殊配置的多連板電路板亦可輕松完成程式編輯

7、內建圖形介面的零件資料庫功能,可直接選擇套用資料庫,減少檢測框建立及參數設定的時間。

8、精準的板彎自動補償及多重定位點確認功能,可確保每次檢測結果的正確性及重現性

9、先進的光學解析度設計(10, 15及 2 0 U M ) XGA 3CCD攝像機每秒可擷取50張標準 XGA格式影像(1024 x 768畫素),配合優越的影像處理運算技術,直接對電路板上的色彩進行分析,可有效檢出不良產品。高達10um/pixel的光學解析度可有 效檢測01005 Chip/12mil Pitch IC。 員可輕易取得實際影像并進行人工外觀 復判比對。

10、內建零件資料庫模塊化的控制系統

11、精密的X-Y機械平臺、PC板傳送系統、影像擷取、光源控制及電腦主機等皆為各自獨立設計之系統模塊,各模塊 可單獨維護及保養,提供系統最佳的方便性。

德律TR7500DT離線AOI自動光學檢測儀規格參數:

光學影像系統:高解析數碼3CCD彩色攝像機 (1024 x 768)。

照 明 光 源:多區域 、 多角度的紅綠藍 + 白色LED

光 學 解析度:同軸光源 10,15,20um

取 像 方 式:高速動態取像  

檢 測 項 目:錫點缺件、立碑、側立、極反、偏移、錯件、反件 多錫、少錫、橋接

X/Y 平臺及控制系統:高精度滾珠螺桿驅動 (搭配伺服馬達及DSP移動控制器)

X/Y 軸解析精度: 1um

最大可測PCB尺寸:330 x 250mm

最大PCB厚度:3mm

最大PCB重量:1kg

待測板輸送/固定方式:人員放板, 系統自動進出及夾板

零件高度限制:上端 35mm 底端 40mm 側邊 3mm

機器重量:133 kg (200 kg 含儀器桌)

機器尺寸:(W) 760mm x (D) 910mm x (H) 820mm

電源需求: 220V AC/10A, Single phas

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